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光学测厚仪CL-SYPZ01大学物理实验教学科研实验光谱分析仪器 光学实验椭圆偏振

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       CL-SYPZ01椭圆偏振测厚仪采用消光法手动调节，自动测量薄膜厚度和折射 率，精度高、灵敏度高、方便测量。光源采用氦氖激光器，功率稳定、波长精度高。仪器软件具有生成表、查表以及精确计算等功能，方便用户使用。


基本配置

1、CL-SYPZ01椭圆偏振测厚仪主机

2、电控箱

3、二氧化硅膜样片

4、专用软件

*需另配计算机及打印机


CL-SYPZ01数据表格.jpg


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