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光学仪器 自动椭圆偏振测厚仪CL-ZDSYPZ02大学物理光学实验教学科研实验光谱分析

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仪器介绍

CL-SYPZ02 自动椭圆偏振测厚仪采用消光法自动控制，自动测量薄膜厚度和折射率，具有精度和灵敏度更高等特点。光源采用氦氖激光器，功率稳定、波长精度高。仪器采用USB 接口与计算机连接，配套软件功能齐全，具有多样数据采集及处理方式，适用于不同用户的需要。



基本配置

1、CL-SYPZ01  椭圆偏振测厚仪主机

2、电控箱

3、二氧化硅膜样片

4、专用软件

*需另配计算机及打印机


CL-SYPZ02数据表格.jpg


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